inTEST ThermoStream ATS-750E 技术参数：

型号	温度范围°C	输出气流量	变温速率	温度 精度	温度显示 分辨率	温度 传感器	远程 控制
ATS-750	-85至+300 50Hz -90至+300 60Hz	4 至18 scfm 1.8至 8.5l/s	-55至 +125°C 约 10 s +125至 -55°C 约 10 s	±1℃	±0.1℃	T型或 K型 热电偶	IEEE 488 RS232

温度显示精度：±1°C(通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)

2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器：T型或K型热电偶)

远程接口: IEEE.488, RS232

加热盖提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结

手持热管也可以随意的移动到被测组件上；也可选购工作支架，省去手持的操作

LabView™驱动

CE相容  不含CFC

加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分

低温时热模式自动减少电力

待机时自动节省电力

提供 inTEST ATS-750E-M 机械手臂版本

ATS-750E-M 高低温测试机尺寸和重量:

尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm

净重 236 kg, 毛重 365 kg

与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：

1. 变温速率更快

2. 温控精度：±1℃

3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度

4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件

5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击; 传统高低温箱无法针对此类测试。

6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度

inTEST 高低温冲击热流仪应用：

车载芯片及器件, 电源芯片, 功率器件, 通信芯片, 光纤收发器等温度冲击测试.

美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求.

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