【产品介绍】

冷热冲击试验箱用于测试各种材料在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。主要应用于半导体芯片、科研院校、质检、新能源、光电通讯、航空航天、汽车行业、LCD显示、医疗等科技产业。

【产品参数】

1、温度范围：-40～+150℃

                     -65～+150℃

2、温度偏差：±2.0℃

3、内箱容积：80L、150L、225L

【运作原理】

两箱式冷热冲击试验箱又称提篮式冷热冲击试验箱，分为高温室和低温室，通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放提篮里。

【产品特点】

1、品质保障。设备统一按照国际标准生产，关键器件采用进口产品，保证设备质量；

2、精心设计。功能齐全、外观大气、结构清晰、操作简易、稳定可靠；

3、设备应用。适用于当前电子产品测试、研究，以及半导体生产线大量筛选试验，可大大节约耗材测试费；

4、操作简易。10.4英寸触控可程式彩色液晶显示屏，操作简易，状态显示、程序设定、故障排除等功能齐全，支持保存1000个自行编辑的实验程序；

5、全新设计。预约启动功能，减少等待时间，可设定循环次数、自动除霜等；

6、人性设计。蓄热方式摒弃传统液态气体方式，避免职业伤害，测试槽完全静止，可由测试孔外加负载配线；

7、节能降噪。采用高标器件，节能省耗，低噪音设计，减少音污染。

【参照标准】

GB/T2423.1-2008试验A低温试验方法
GB/T2423.2-2008试验B高温试验方法
GB-T10592-2008高低温箱技术条件
GJB150.3-1986工业设备环境试验方法：高温试验
GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求

【操作流程】

一、预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。
二、初始检测：将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。
三、试验：
1、试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱内温度升到指定点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。
2、高温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。
3、低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。
4、重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。
四、恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。
五、结尾检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。

产品留言

标题

联系人

联系电话

内容

验证码

点击换一张

注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!