应力筛选规范列表
应力筛选规范：
MIL-202C-106、107
电子及电器部件试验方法标准
MIL-781
可靠性试验方法手册
HB/Z213
机载电子设备环境应力筛选指南
HB6206
机载电子设备环境应力筛选方法
JESD22-A109-A
器密试验方法
TE000-AB-GTP-020
环境应力筛选要求与海军电子设备应用
CFR-Title 47-Chapter I-68.302
美国联邦通讯委员会环境仿真
GJB/Z34
电子产品定量环境应力筛选指南
HB/Z213
组件级环境应力筛选
温度循环：
EC 68-2-14
温度变化
MIL-STD-2164
电子设备环境应力筛选方法=GJB1032-1990
GJB1032-1990
电子设备环境应力筛选方法
DOD-HDBK-344
电子设备环境应力筛选=GJB/Z34-1993
NABMAT-9492
美军海军制造筛选
JIS C5030
热循环试验
零件预烧试验：
MIL-STD-883,Method 1008
预烧
MIL-STD-883,Method 1015
(IC类预烧)
MIL-STD-750,Method 1038
(二极管类预烧)
MIL-STD-750,Method1039
晶体管类预烧)
MIL-STD-883,Method 1010
温度循环
MIL-M-38510
军用微型电路的一般规格
MIL-S-19500
半导体器件要求和特点
系统预烧：
MIL-781
可靠性设计鉴定与生产接收试验
MIL-810
美国军标环境工程考虑和实验室试验